遠紅外熱成像儀是由光學系統(tǒng)、光電探測器、信號放大器及信號處理、顯示輸出等部分組成，光學系統(tǒng)匯聚其視場內的目標紅外輻射能量，視場的大小由測溫儀的光學零件及其位置確定。紅外能量聚焦在光電探測器上并轉變?yōu)橄鄳碾娦盘枴Ｔ撔盘柦涍^放大器和信號處理電路，并按照儀器內療的算法和目標發(fā)射率校正后轉變?yōu)楸粶y目標的溫度值。

　　下面小編要為您介紹的是遠紅外熱成像儀的不同測量方法：

　　1、全輻射測溫法

　　根據測量波長從零到無限大整個光譜范圍物體的總輻射功率用黑體定標的儀器來確定物體的溫度。其總輻射功率的大小與被測對象溫度之間的關系是由斯蒂芬-玻爾茲曼定律來描述。

　　2、多波段測溫法

　　依次取多個波段，通過計算這些波段輻射功率之間的復雜關系來確定物體的溫度。

　　3、雙波段測溫法

　　根據測量兩個給定波長K1和K2的輻射功率之比，用黑體定標的儀器來確定物體的溫度，適合測量發(fā)射率變化或未知的物體，但只適合于測量輻射能量密度大的高溫物體。這3種方法均由普朗克定律來描述。

　　4、亮度測溫法

　　根據測量給定波長K0附近一窄光譜范圍的輻射用黑體定標的儀器來確定物體的溫度，適用于高溫測量。

　　5、大波長測溫法

　　由維恩位移定律，黑體輻射峰值波長Kmax與溫度T之積為一常數，通過測量峰值波長Kmax來計算溫度T。此法常用測量*溫(大于2000°C)。由此可見，非接觸紅外測溫有以下的缺點：測得的溫度值是測量對象的表面溫度，且必須用發(fā)射率進行修正，增加了測量的復雜性；周圍介質的影響引起測量誤差。

　　希望上述內容能夠幫助大家更好的了解本儀器，同時也歡迎大家持續(xù)關注本站，小編會定期為大家?guī)砀嗟南嚓P產品知識介紹。